检测服务

INSPECTION

IEC 62321-1:2013

简介和概述

IEC 62321-2:2021 (更新，2021-08-30发布)

样品的拆卸、拆解和机械拆分

IEC 62321-3-1:2013 

使用 X 射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛

EC 62321-3-2:2020

使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选

IEC 62321-3-3:2021 (新增，2021-09-14首次发布)

使用Py/TD‑GC‑MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚、特定邻苯二甲酸盐进行筛选

IEC 62321-4:2013+AMD1:2017

使用 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 测定聚合物、金属和电子材料中的汞

IEC 62321-5:2013   

使用 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 测定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅

IEC 62321-6:2015   

使用 GC-MS 测定聚合物中多溴联苯和多溴二苯醚

IEC 62321-7-1:2015   

比色法测定金属无色和有色防腐镀层六价铬

IEC 62321-7-2:2017   

比色法测定聚合物和电子产品中六价铬

IEC 62321-8:2017   

使用GC-MS或Py-TD-GC-MS   检测聚合物中的邻苯二甲酸酯

IEC 62321-9:2021  (新增，2021-08-30首次发布)

使用 GC-MS 测定聚合物中六溴十二烷

IEC 62321-10:2020 ((新增，2020-06-24首次发布)

使用 GC-MS测定聚合物和电子产品中多环芳烃